Die automatische optische Inspektion, Automatic Optical Inspection (AOI), ist ein optischer Strukturtest für Leiterplatten mit dem relativ viele Fehler ermittelt werden können, allerdings weniger als mit dem Funktionstest ( FT) oder dem In-Circuit-Test ( ICT). Dafür ist der AOI-Test nicht so kosten- und zeitintensiv wie die anderen genannten Testverfahren.
Beim AOI-Test werden hochauflösende Fotos aufgenommen, wodurch der Test auch reproduzierbar ist. Es gibt auch AOI-Testsysteme, die stereoskopische 360°-Aufnahmen machen oder Aufnahmen aus verschiedenen Winkeln.
Mit dem AOI-Test können mechanisch defekte Bauelemente erkannt werden, darüber hinaus Einpressfehler, Bestückungsfehler bei der Bestückung mit SMD-Bauteilen und bei der Durchstecktechnik ( THT), Lötfehler, aber nicht alle Lotbadfehler.
Außerdem können mit dem AOI-Test keine Fehler an verdeckten Chip-Anschlüssen kontrolliert werden, die sich unterhalb der Chips befinden, wie bei BGA-Chips. Ein anderes Problem ist die Polung von Bauelementen wie von Tantal-Kondensatoren oder Elkos, die bei axial installierten Bauelementen nicht aus der Draufsicht erkannt und kontrolliert werden kann. Dieses Problem kann mit AOI-Systemen gelöst werden, die Aufnahmen aus verschiedenen Winkeln machen können. Defekte elektrische Bauelemente können mit dem AOI-Test nicht erkannt werden.