AOI-Test

Die automatische optische Inspektion, Automatic Optical Inspection (AOI), ist ein optischer Strukturtest für Leiterplatten mit dem relativ viele Fehler ermittelt werden können, allerdings weniger als mit dem Funktionstest ( FT) oder dem In-Circuit-Test ( ICT). Dafür ist der AOI-Test nicht so kosten- und zeitintensiv wie die anderen genannten Testverfahren.

Beim AOI-Test werden hochauflösende Fotos aufgenommen, wodurch der Test auch reproduzierbar ist. Es gibt auch AOI-Testsysteme, die stereoskopische 360°-Aufnahmen machen oder Aufnahmen aus verschiedenen Winkeln.

AOI-Test mit schrägem Betrachtungswinkel, Foto: goepel.com

AOI-Test mit schrägem Betrachtungswinkel, Foto: goepel.com

Mit dem AOI-Test können mechanisch defekte Bauelemente erkannt werden, darüber hinaus Einpressfehler, Bestückungsfehler bei der Bestückung mit SMD-Bauteilen und bei der Durchstecktechnik ( THT), Lötfehler, aber nicht alle Lotbadfehler.

AOI-Test mit Fehlerangaben, Fotos: helmut-beyers-gmbh.de

AOI-Test mit Fehlerangaben, Fotos: helmut-beyers-gmbh.de

Außerdem können mit dem AOI-Test keine Fehler an verdeckten Chip-Anschlüssen kontrolliert werden, die sich unterhalb der Chips befinden, wie bei BGA-Chips. Ein anderes Problem ist die Polung von Bauelementen wie von Tantal-Kondensatoren oder Elkos, die bei axial installierten Bauelementen nicht aus der Draufsicht erkannt und kontrolliert werden kann. Dieses Problem kann mit AOI-Systemen gelöst werden, die Aufnahmen aus verschiedenen Winkeln machen können. Defekte elektrische Bauelemente können mit dem AOI-Test nicht erkannt werden.

Informationen zum Artikel
Deutsch: AOI-Test
Englisch: automatic optical inspection - AOI
Veröffentlicht: 14.03.2014
Wörter: 200
Tags: Tests
Links: Strukturtest, Fehler, Funktionstest, Fehlertoleranz, In-Circuit-Test
Übersetzung: EN
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