Optische Frequenzbereichs-Reflektometrie

Die optische Frequenzbereichs-Reflektometrie (OFDR) ist ein Verfahren zur Bestimmung von Rückstreuungen, das, im Gegensatz zur optischen Zeitbereichsreflektometrie ( OTDR), auf der Wellenlängenmessung des Lichts basiert und nicht auf der zeitlichen Zuordnung des reflektierten Lichtsignals.

Bei der Optical Frequency Domain Reflectometry wird ein Dauerstrichsignal in den Lichtwellenleiter eingespeist. Das eingespeiste Licht wird an kleinsten Inhomogenitäten, die in der Gitterstruktur liegen können, reflektiert und ändert durch die Raman-Streuung seine Wellenlänge. Das rückgestreute Licht gelangt an den Eingang des Lichtwellenleiters, wo es in seiner Wellenlänge gemessen wird.

Durch den Dauerstrich-Betrieb und eine schmalbandige Detektierung der rückgestreuten Wellenlänge, wird bei OFDR ein wesentlich höheres Signal-Rausch-Verhältnis erzielt. Das zur Messung erfasste Licht wird mittels Signalverarbeitung in der Wellenlänge, deren Betrag und Phase ausgewertet. Rückschlüsse auf den Fehlerort sind nur möglich, wenn das detektierte rückgestreute Signal als Funktion der Frequenz in seiner komplexen Form mittels Fourier-Transformation bewertet wird.

Informationen zum Artikel
Deutsch: Optische Frequenzbereichs-Reflektometrie
Englisch: optical frequency domain reflectometry - OFDR
Veröffentlicht: 19.11.2012
Wörter: 157
Tags: LwL-Parameter
Links: Rückstreuung, Zeitbereichsreflektometrie, Optische Zeitbereichsreflektometrie, Lichtwellenleiter (LwL), Licht
Übersetzung: EN
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